为帮助同学们深入了解芯片测试技术，提升人才培养质量，通信与信息工程系于3月21日在学思楼127教室举办“芯片量产测试世纪讲坛讲座”。此次讲座特邀通信与信息工程系教师王瑞霞担任主讲嘉宾，其丰富的行业经验和深厚的学术造诣，为在场师生们带来了一场关于芯片量产测试技术的知识盛宴。

讲座伊始，王老师以深入浅出的方式，为同学们梳理了芯片开发的完整流程，详细阐述了测试在芯片开发中的具体作用，包括验证设计正确性、发现潜在问题、确保产品性能达标等，让同学们对测试的重要性有了更深刻的认识。

随后，王老师将话题引向了芯片量产测试的技术层面。她首先介绍了测试的基本概念和目的，强调了测试在产品开发、制造、质量控制等方面的重要作用。接着，她详细讲解了功能测试、DC特性测试、AC特性测试等不同类型的测试项目及其测试手法。通过生动的案例和直观的图表，王老师让同学们更加直观地了解了这些测试项目的具体操作过程和测试结果的分析方法。她不仅解释了每种测试方法的原理和步骤，还分享了自己在测试实践中积累的经验和技巧，让同学们受益匪浅。

在谈到测试设备时，王老师更是如数家珍。她详细介绍了LSI Tester、Prober、Handler等各种先进的测试设备，并解释了它们在芯片测试中的应用和优势。同时，她还强调了测试设备与测试程序之间的紧密配合，以及通过优化测试程序和测试设备来提高测试效率和准确性。

王老师结合具体案例，深入分析了量产测试在产品开发中的位置和重要性。她分享了自己在量产测试实践中遇到的挑战和解决方案，让同学们对量产测试有了更全面的了解。

讲座尾声，王老师对芯片量产测试的发展趋势和挑战进行了展望。她表示，随着芯片技术的不断发展和市场竞争的日益激烈，量产测试面临着越来越高的要求和挑战。因此，我们需要不断创新和优化测试技术，提高测试效率和准确性，以应对未来的市场变化和挑战。同时，她还鼓励同学们要关注行业动态，积极学习新知识、新技能，为未来的职业发展打下坚实基础。

这场讲座不仅让同学们深入了解了芯片量产测试的开发流程与技术细节，更激发了他们对芯片测试技术的浓厚兴趣和创新思维。王瑞霞老师用自己的实际行动诠释了科研人员的责任与担当，为同学们树立了榜样。她的专业精神、严谨态度和无私奉献，激发了同学们为实现科技强国梦想而奋斗的勇气和决心。（通信与信息工程系团总支 供稿/综合部 编辑）